半导体晶圆检查系统

 

SEMICONDUCTOR WAFER INSPECTION SYSTEM

采用高精度光学传感技术,能够实时检测晶圆位置并智能识别任何异常,配合毫秒级的声光报警系统,确保零漏检,全方位守护晶圆在传输过程中的安全无虞。

产品介绍

 

PRODUCT INTRODUCTION

产品特点

 

PRODUCT FEATURES

兼容广适

 

新一代晶圆传送系统专为应对第三代化合物半导体材料的应用而生,特别是针对透明晶圆产品。我们采用了全新设计,不仅完美兼容传统的Si晶圆,还广泛支持GaAs、GaN、SiC等多种类型的晶圆,同时展现出对透明晶圆产品的卓越处理能力,确保在各种材料上的高效稳定运行。

高效易控

 

能自动处理4寸、6寸、8寸晶圆。系统内置安全可靠的卡匣扫描、传片、宏观检查及定位模组,全中文操作界面友好易上手。卓越的光学成像系统支持宏观与微观检查,而高效的数据处理系统则能精准统计并分析瑕疵与缺陷,为您的晶圆生产提供全方位保障。

多材适用

 

广泛适用于多种材质的晶圆处理,包括但不限于硅(Si)、碳化硅(Sic)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)以及玻璃(Glass)等,展现了极高的兼容性和适应性,满足不同材质晶圆的生产需求。

支持定制

 

搭载精密光学系统,其中包括先进的预对焦(Pre-focus)功能,以及金相观察的专业配置。我们提供高度定制化的服务,根据客户的特定需求,可灵活选择配置如电子地图(E-map)、光学字符识别(OCR)以及预对焦等高级功能,确保满足多样化的应用需求与性能期望。

产品案例

 

PRODUCT CASES